(주)엔아이텍 특허건 취득 

1. 기판의 두게 측정장치 및 측정방법

특허: 제 10-1569814 호

2. 기판의 상하 얼라인먼트 측정 장치 및 상하 얼라인먼트 측정 방법

특허: 제 10-1569819 호

니콘 공식대리점 (주)엔아이텍은 최근 2건의 특허를 취득하였으며

측정 방식의 특허기술 확보를 통해 광학기기 전문 업체로 한걸음 더 도약하는 (주)엔아이텍이 되도록 하겠습니다.