NIR MicroscopeNIR Microscope (LV150_IR)
개요
특징
900–1700 nm(SWIR) 근적외선 대응으로 Si 웨이퍼/패키지, 레이저 마킹, NIR 투과·내부 관찰에 최적화
동축(Coxial) 조명 기반으로 반사율 편차가 큰 시편에서도 안정적인 콘트라스트 확보
LV150 기반의 안정적인 광학/메카 구조로 생산·R&D 환경에서 재현성 있는 관찰/기록에 적합
InGaAs SWIR 카메라 연동으로 저노이즈·고감도 이미지 획득 및 USB3.0 인터페이스 구성 가능
스펙
카탈로그
옵션


